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sEm和tEm的主要应用有哪些

SEM,全称为扫描电子显微镜,又称扫描电镜,英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM,全称为透射电子显微镜,又称透射电镜,英文名Transmission Electron Microscope.区别:1. SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收

电子显微镜,尤其扫描电镜SEM的结构原理功能用途(有兴趣的可以进一步了解)并不是非常复杂,也不难理解,使用也很方便.简单的理解,电子显微镜是电真空设备,发展历史几乎和电视系统发展同步,(有兴趣的可以了解)相当于电视系

能够观察和研究金属及其合金的内部结构和晶体缺陷,成像及电子衍射的研究,把形貌信息与结构信息联系起来;能够进行动态观察,研究在温度改变的情况下相变的形核长大过程,以及位错等晶体缺陷在应力下的运动与交互作用.复型技术和

XRD可以做定性,定量分析.即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向知、含量,可以测定材料的内应力,材料晶体的大小等等.一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量.道 样品制备:通常定量分析的样品细度应在1微米左右,即应过320目筛.SEM是利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的回各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等.主要答是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射.

1、透射电子显微镜电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短.透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多.由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,

透射电镜(TEM)的放大倍数要比扫描电镜(SEM)的高,当然两则的成像原理也是不同的,如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况,你就必须要用TEM来观察了,SEM通常看材料的缺口断面,当然还有许多其他应用. SEM是电子束激

sem是扫描电镜,所加电压比较低,只是扫描用的,相当于高倍的显微镜tem是透射电镜,所加电压高,可以打透样品,观察内部结构stem是扫描透射,是扫描电镜里面的一个功能,可以说是山寨版的temstm是扫描隧道显微镜,具体功能不太清楚了.

通过使用TEM不同的模式,可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像

扫描电镜和透射电镜都是看物体形貌的材料测试手段,不同的是扫描电镜收集的是二次电子也就是电子束反射回来的信息,透射电镜收集的是电子束透过的信息.透射电镜的分辨率要比扫描电镜大,同时透射电镜还可以检测物质的相结构已经晶型(多晶,单晶),而扫描电镜不可以

STEM是既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜.象SEM一样,STEM用电子束在样品的表面扫描,但又象TEM,通过电子穿透样品成像.STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息.STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂.优点 1.利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样. 2.利用扫描透射模式时物镜的强激励,可以实现微区衍射. 3.利用后接能量分析器的方法可以分别收集和处理弹性散射和非弹性散射电子.

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